一、光谱法：

　　依据光的干涉理论，pvc缠绕膜与基底，再到缠绕膜界面上的光束的透射或反射，引起双光束或多光束干涉效应，具有不同特性的缠绕膜具有不同的光谱反射率或或透射率，而且在全光谱范围内和缠绕膜厚度有着对应关系。因此，可以通过测量缠绕膜的光谱特性来计算缠绕膜的厚度和光学常数。

　　在一个多层膜系统中，大量的光束干涉特性由pvc缠绕膜的特性决定，缠绕膜界多光束干涉可以由其特征矩阵来表征。

　　光谱法的优点在于测量精度较高、速度快，能同时测定缠绕膜的多个参数，且有益地除去方程解得多值性，测试简单且精度高，具有非接触性和非苛刻性，并可以测试多种类型的薄膜。同样光谱法也有一些局限性，透射和反射光谱均由分光计测量得到，而反射率和透射率对缠绕膜表面条件的依靠性较强，且对入射角的变化较敏锐，这样测量反射率和透射率的稳定性就较差，因而不能够达到较高的测量精度，而且利用光谱法测量时，针对不同类型的待测pvc缠绕膜需要使用不同波段的光谱对其进行测量，特定的光谱波段范围在实际测量过程中往往是较难保障的。

　　二、椭圆偏振法：

　　该方法是以测量光线的偏振态为墓础的测量方法测量缠绕膜表面反射光偏振态的变化，即 P 光和 s 光的振幅和位相的改变。它是目前测量缠绕膜厚度及光学常数使用较广的方法，是研究两媒介界面或缠绕膜中发生的现象及其特性的一种光学方法。

　　椭圆偏振法的优点是反射光的偏振态变化对pvc缠绕膜厚度的变化敏锐，因此其有较高的测试敏锐度和精度，适合于透明的或弱吸收的各向同性的厚度小于一个周期的缠绕膜，也可用于多层膜的测量。

　　每种方法都有各自的优缺点，同样该方法也存在一些不足，例如当缠绕膜厚度较小时，缠绕膜折射率与基底折射率相接近，用椭偏仪同时测得pvc缠绕膜的厚度和折射率与实际情况有较大的偏差。